icp光譜分析儀如何消除因光譜及樣品物理性質(zhì)帶來的干擾
更新時間：2021-12-16 點擊次數(shù)：1623
icp光譜分析儀
主要用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數(shù)的金屬和磷、硅、硫等少量的非金屬物質(zhì)，數(shù)量高達(dá)72種之多，是當(dāng)前光譜分析中迅速靈敏的一種儀器。采用等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)，有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬等特性。 icp光譜分析儀分析過程中有時會受到一些不利因素干擾，導(dǎo)致分析數(shù)值不準(zhǔn)確，就好比說光譜或樣品物理性質(zhì)干擾，因此就需要用不同的方法去消除此類干擾，這對于新手來說還是存在一定難度，但并不是不能解決，只要方法找對了，其實也不難！
先來說說光譜干擾：是常見的干擾，跟試樣類型有關(guān)，在軟件中可以看出來有沒有光譜干擾。
消除方法參考：雙邊校正背景方式，通過調(diào)節(jié)兩個背景點的位置和像素點來消除干擾；若干擾很嚴(yán)重可用MSF模型。IEC用的很少。
那么對于物理干擾怎么理解呢：因為樣品首先進(jìn)行霧化，粘度不一樣，霧化效率不一樣，形成氣溶膠效率不一樣，到達(dá)中心管的速度不一樣，從而引起強(qiáng)度值的變化。1%的硝酸和5%的硫酸通過相同的條件進(jìn)行霧化，出來的液滴大小不一樣，這是由于樣品物理性質(zhì)的干擾對測定造成的影響。
消除方法參考：首先保證載氣流量的穩(wěn)定，采用復(fù)配方式測定，配標(biāo)液可用到異辛烷；基體大致相同；基體校正系數(shù)法，用的較少；標(biāo)準(zhǔn)加入法；內(nèi)標(biāo)法，加內(nèi)標(biāo)元素進(jìn)去，讓它時時監(jiān)控霧化效率和傳出效率，如果有改變，可按照系數(shù)計算。
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